冷冻X射线光电子能谱（cryo-XPS）与氩气团簇离子束（GCIB）溅射联用技术，首次实现对锂金属电池中含有机电解液的固-液界面进行无化学损伤的深度成分解析，揭示真实SEI结构与演化过程。

低能量反光电子能谱（LEIPS）通过测量不同工艺条件下有机薄膜的LUMO能级变化，揭示了添加剂和热退火处理对表面能级的调控作用。

在二次离子质谱设备的硬件结构中，用于轰击样品表面以产生二次离子的分析源是极为重要的核心组件。目前，大部分商用TOF-SIMS设备均采用液态金属离子源（Liquid Metal Ion Source, 简称LMIS）。本文将详细介绍LMIS的工作原理、发展历史及其在TOF-SIMS中的应用。

导语：利用X射线光电子能谱（XPS）和硬X射线光电子能谱（HAXPES）技术，深入研究了LiₓNiO₂电极材料在表面至30纳米深度范围内，镍（Ni）和氧（O）在充放电过程中的电荷补偿行为。

上篇介绍了俄歇电子能谱（AES）的定性分析、定量分析及化学态分析功能，本篇我们将继续分享更多AES高级功能，其中包括表面形貌观察、深度分析及显微分析。

俄歇电子能谱仪（AES），作为表面分析技术领域的纳米探针，在固体材料表面纳米尺度的元素成分分析及形貌表征方面发挥着重要作用。