俄歇参数可被视为化合物的XPS化学态指纹,不仅可以消除荷电效应和功函数影响,还因X射线激发的俄歇跃迁显示出更大的化学诱导位移,能够更好地区分化合物。
斯坦福大学崔屹团队在《Nature》发表题为《Cryogenic X-ray photoelectron spectroscopy for battery interfaces》的研究,开发出基于骤冷技术的冷冻XPS(Cryo-XPS)方法,成功实现对SEI膜原始成分与结构的精准“冻结”与解析,为电池界面研究带来革命性突破。
质量校准是TOF-SIMS数据处理中的关键步骤,校准准确性直接影响谱峰识别的可靠性。本期技术文章将介绍如何正确进行TOF-SIMS数据的质量校准。