低能量反光电子能谱（LEIPS）通过测量不同工艺条件下有机薄膜的LUMO能级变化，揭示了添加剂和热退火处理对表面能级的调控作用。

在二次离子质谱设备的硬件结构中，用于轰击样品表面以产生二次离子的分析源是极为重要的核心组件。目前，大部分商用TOF-SIMS设备均采用液态金属离子源（Liquid Metal Ion Source, 简称LMIS）。本文将详细介绍LMIS的工作原理、发展历史及其在TOF-SIMS中的应用。

导语：利用X射线光电子能谱（XPS）和硬X射线光电子能谱（HAXPES）技术，深入研究了LiₓNiO₂电极材料在表面至30纳米深度范围内，镍（Ni）和氧（O）在充放电过程中的电荷补偿行为。

上篇介绍了俄歇电子能谱（AES）的定性分析、定量分析及化学态分析功能，本篇我们将继续分享更多AES高级功能，其中包括表面形貌观察、深度分析及显微分析。